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磁性薄膜材料測量設備磁光克爾效應測量系統(tǒng) 手動左右和上下位移樣品，可測試樣品表面不同點的克爾效應，樣品座有電接口，可加入磁電耦合測試。

儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可。半導體材料測試系統(tǒng)霍爾效應電磁鐵型JH60A

實驗室半導體測量室溫探針臺JZM-D30芯片測試 該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙極性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。

氣氛型高溫探針臺實驗室半導體測量設備 提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1； 匹配觀察窗，插拔樣品卡，探針卡，鱷魚夾。